| 会場 | ： | シーズ&ニーズセミナーA（東4ホール） |
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ナノテクノロジーを支える日立３D計測ソリューション（SEM/AFM/CSI）＋αの機能
ナノテクノロジー分野に欠かせないナノ３D計測や微細構造観察装置
成果を上げるためには用途に応じて最適な測定観察装置を選ぶ必要があります。
日立ハイテクは、SEM/AFM/CSIを有する総合ナノ３D観察装置のメーカです。
異なる観察範囲と異なる観察手法を有する日立ハイテク【ナノ３D計測ソリューション】
３D計測だけでなく、それぞれが有する＋αのユニークな機能と多角的解析手法SAEMICについて解説します。
どのような測定器を選べばよいのか？一緒に考えてみましょう。