出展展示会 | : | nano tech 2024 |
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小間番号 | : | 4W-01-10 |
出展ゾーン | : | その他:主催者特別展示 |
出展パビリオン | : | スタートアップ&アカデミアポスター展示 |
SSR解析でXPS測定時間を大幅短縮
名古屋大学発のオリジナル技術であるスペクトル超解像解析によって、X線光電子分光(XPS)測定の高速化が可能です。測定データの品質(S/N)を損なわずに、測定時間を約1/10に短縮することが可能です。スペクトル解析ソフトの開発・販売を行う名大発ベンチャーSSR株式会社を創業し、技術の社会実装を行っています。
SSR株式会社HP: https://spectralsr.com/
センシング
スタートアップ企業やアカデミア研究によるピッチセッション!新たなビジネスチャンスや課題解決の機会創出を促し、オープンイノベーションを加速させます。ぜひご参加ください!
会場 | : | シーズ&ニーズセミナーB(東4ホール) |
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会場 | : | シーズ&ニーズセミナーB(東4ホール) |
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九州大学大学院工学府航空宇宙工学専攻博士後期課程修了、博士(工学)。2021年12月より京都大学大学院工学研究科マイクロエンジニアリング専攻准教授として、ナノ・マイクロ熱計測やナノ材料を用いたフレキシブルデバイスなどに関する研究などに従事。2020年12月より科学技術振興機構さきがけ研究者(情報担体領域)を兼任。
半導体のさらなる微細化や様々なナノ材料の登場により、ナノ・マイクロスケールでの熱物性計測の需要はますます高まっています。本発表では、我々が独自に開発を進める高精度3次元ナノ・マイクロスケール熱計測技術である周波数領域サーモリフレクタンスによる計測手法を含む熱計測技術について実際の測定事例などを交えて紹介します。
会場 | : | シーズ&ニーズセミナーB(東4ホール) |
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名古屋大学発のオリジナル技術であるスペクトル超解像解析によって、X線光電子分光(XPS)測定の高速化が可能です。測定データの品質(S/N)を損なわずに、測定時間を約1/10に短縮することが可能です。スペクトル解析ソフトの開発・販売を行う名大発ベンチャーSSR株式会社を創業し、技術の社会実装を行っています。講演では、スペクトル超解像技術の応用例と今後の展開についてご紹介いたします。
下記情報は来場者から出展者への事前アポイント・問合せを目的に公開しています。
それ以外の目的(セールス等)で無断に使用・転載する事を固く禁じます。
企業名 | : |
東海国立大学機構名古屋大学
未来材料・システム研究所 原田俊太准教授 「スペクトル超解像技術」 |
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住所 | : | 〒 464-8601 愛知県 名古屋市千種区不老町 |