【新製品】ここでしか聞けない!遠心分離+新技術でナノ粒子径分布を高分解能・高再現性で測定するPartica CENTRIFUGEと、その他の技術で実現する高濃度粒子分散状態分析や複合分析の最新アプリケーションをご紹介
2022年01月28日(金) 11:35-12:05
会場: シーズ&ニーズセミナーA(東3ホール)
株式会社堀場製作所
開発本部 科学・半導体製品開発センター アプリケーション開発部 Open Innovationチーム
櫻本 啓二郎氏
【講演概要】
遠心式ナノ粒子解析装置「ParticaCENTRIFUGE」をご紹介。遠心沈降法を用いて粒子をサイズごとに分ける測定により、信頼性のある粒子径分布を提供します。カーボンナノチューブやセルロースナノファーバーのようなひも状の試料のサイズと解繊状態の分析、半導体研磨用CMPスラリーなどの高精度管理、電池材料やインクのような高濃度試料の分散・凝集状態の分析が可能で、最先端材料の開発・品質管理に活躍します。
その他にも、HORIBAが誇る多彩な粒子分析技術による、これまで分析することが困難であった、ゲル化した状態の内部構造の分析や、粒子濃度分析、混合物中でのターゲットとする粒子のみの粒度分布取得、粒子の空隙率分析など、様々な分析の事例を紹介いたします。
質疑応答時間を多く設けます。ご紹介内容ついてはもちろん、日ごろの課題・お困りごとをお持ちになってお気軽にご質問にお越しください。