小角X線散乱法（SAXS）を用いたナノ材料の構造解析
最近特にニーズの高まっているナノ材料の評価方法の一つである ”小角X線散乱法（SAXS）” にフォーカスして、最新の測定事例を紹介します。
2022年01月26日（水） 11:35-12:05
会場： シーズ&ニーズセミナーB（東2ホール）
三洋貿易株式会社
ライフサイエンス事業部 科学機器部 1G
グループリーダー
松宮 宏幸氏
【講演者プロフィール】
X線、紫外線、可視光、赤外線を利用した分光分析装置関連の営業、アプリケーションを主に担当。
【講演概要】
ナノ材料におけるナノレベル構造解析には小角X線散乱（SAXS）装置が用いられてきましたが、本セミナーでは、最近、特にニーズの高まっているナノ材料の評価方法にフォーカスして、最新の測定事例を紹介させて頂きます。ナノレベル以外にも、凝集体のミクロンサイズ構造解析においても具体例を紹介し、放射光施設の利用が必要とされてきた超小角X線散乱（USAXS）のラボ向け装置の最新情報を提供させて頂きます。今回ご紹介するXenocs社Xeuss 3.0では、Bonse Hart光学系の採用によりミクロンサイズのUSAXS構造解析が出来る様になりました。放射光施設のビームライン利用者や利用をご検討中の研究者の方にラボ向け超小角X線散乱装置の最新情報をお届けします。
【トピックス】
・小角X線散乱法で得られる情報
・USAXS/SAXS/WAXSの違いについて
・ナノ材料のアプリケーション事例
・【新製品】イメージングSAXS
・次世代 小角X線散乱装置 Xeuss 3.0のシステム概要