会議棟(7階 国際会議場)

2020年12月10日(木)

【特別シンポジウム】
計測インフォマティクス~
データ駆動型科学による計測技術の刷新

【主催】nano tech実行委員会事務局
【開催時間】14:00-16:00 事前登録

 
人工嗅覚に向けた嗅覚センサMSSと機械学習の融合
14:00-14:30 事前登録 アーカイブ配信
会場: 会議棟(7階 国際会議場)

吉川 元起

(国研)物質・材料研究機構

機能性材料研究拠点 センサ・アクチュエータ研究開発センター 嗅覚センサグループ

グループリーダー

吉川 元起

【講演者プロフィール】

2004年東京大学大学院理学系研究科博士過程修了。
2005年東北大学・金属材料研究所助教、
2007年バーゼル大学・客員研究員、
2009年NIMS・ICYS研究員、
2011年同独立研究者などを経て、2016年より同グループリーダー。
全国発明表彰、清山賞、文部科学大臣表彰、nano tech プロジェクト賞などを受賞。
嗅覚センサと関連技術、およびそれらの統合に関する研究に従事。


【講演概要】

五感のうち、最もデバイス化が遅れているのが「嗅覚」です。測定対象である「ニオイ」は、数十万種類以上といわれる各成分が、任意の割合で数種から数千種混ざり合って形成されており、さらにこれが時間的にも空間的にも絶えず揺らぎます。このように複雑なニオイを測る嗅覚センサを実現するには、センサ素子やシステムの開発に加え、機械学習などによる多次元時系列データの解析技術の開発が重要となります。本講演では、理想的な嗅覚センサ素子「MSS」を軸に、最先端のハードウェア(センサ素子や機能性感応膜など)とソフトウェア(特徴量設計や機械学習モデルなど)の融合について、最新成果や産学官連携と共にご紹介します。
#評価・計測

計測実験の最適化と計測データ解析の自動化
14:30-15:00 事前登録 アーカイブ配信
会場: 会議棟(7階 国際会議場)

小野 寛太

大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構

物質構造科学研究所

准教授

小野 寛太

【講演者プロフィール】

1996年東京大学大学院理学系研究科博士課程修了。東京大学大学院工学系研究科を経て、
2003年より現職。量子ビームを用いた磁性材料研究、および計測とインフォマティクスとを
融合した新しい科学研究システム構築に関する研究に従事。


【講演概要】

計測インフォマティクス手法の研究開発により、量子ビーム実験のハイスループット化および
全自動での計測・解析を実現することを目指している。
量子ビーム実験をはじめとした物質・材料の評価や解析手法における、計測の最適化の方法、
およびデータ解析の自動化について、X線回折・散乱やスペクトル計測を中心として
議論する。
#評価・計測

EELS/XAFSインフォマティクス~機械学習によるスペクトル解析の刷新~
15:00-15:30 事前登録 アーカイブ配信
会場: 会議棟(7階 国際会議場)

溝口 照康

東京大学

生産技術研究所

教授

溝口 照康

【講演者プロフィール】

2002年に京都大学で博士(工学)取得,その後京都大学,東京大学,ローレンスバークレー国立研究所にて博士研究員,2005年10月から東京大学総合研究機構・助手,助教,2009年12月から東京大学生産技術研究所・准教授,2019年1月から教授.第一原理計算と原子分解能計測,情報科学手法を駆使し,物質における構造と機能の相関性を明らかにするための研究に従事


【講演概要】

X線および電子線を用いて測定される吸収スペクトルであるXAFS/EELSは,高い空間分解能や時間分解能,優れた検出感度を有する強力な分光法であり,触媒や電池開発に盛んに利用されている.一方で,空間・時間分解スペクトル測定技術や自動測定技術の発展により,一度の実験で取得されるデータ量は急増している.そのような膨大な数のスペクトル1つ1つに対して,理論計算を実行して解析する従来の「研究者駆動型スペクトル解析」を実施することは困難である.発表者らは機械学習を活用した「データ駆動型スペクトル解析法」を開発してきた.発表では機械学習を活用したスペクトル計算法や,物性予測などの研究例を紹介する.
#評価・計測

【中止】計測インフォマティクスによる解析高度化への期待と取り組み
15:30-16:00 事前登録
会場: 会議棟(7階 国際会議場)

今井 英人

株式会社日産アーク

解析プラットフォーム開発部

テクニカルディレクター

今井 英人

【講演者プロフィール】

1997年京都大学大学院工学研究科博士課程修了。
日本電気株式会社 基礎研究所、米国イリノイ州立大学を経て、2020年より現職。横浜国立大学客員教授。
量子ビームを用いた電気化学デバイスのオペランド解析を中心に、高度計測と計算科学/インフォマティクスとの融合技術の開発を推進。


【講演概要】

日本国内における分析/解析サービス市場は、ナノテクノロジーの進展とともに発展を遂げ、拡大を続けている。計測インフォマティクスによる分析/解析技術の革新は、製造業におけるクライアントのアンメットニーズをイノベーティブに解決する手法となりうる。計測インフォマティクスがもたらす新たな価値を、ラマン分光法、放射光/中性子解析などを用いた具体的な解析事例とともに紹介する。
※12/9 本講演は講師のご都合により中止となりました。