動的光散乱法(DLS)と小角X線散乱法(SAXS)を用いた、ナノ粒子の異方性評価のご紹介

15:05-15:50

【講演概要】

様々な原理のナノ粒子計測技術が開発され、多目的に1つのサンプルを評価する事が可能になりましたが、殆どの原理は球状粒子と仮定して、粒子径を算出しています。ナノ粒子では異方性はより顕著になり、必ずしもサンプル粒子の形状が球状ではないケースが多くなります。今回の発表ではこの異方性に着目し、DLS法とSAXS法を用いて異方性のナノ粒子を評価した結果についてご紹介いたします。