わかりやすい！ブルカーAMF形状測定、動的粘弾性測定、AFM-IRによるナノスケール赤外分光の測定例解説

12:20-13:05

【講演概要】

最近のAFMは形状測定の域を超え応用測定が多様化している。一方でAFMの基礎を理解しないまま応用測定を試みるケースが多く見受けられる。
本セッションではBruker独自技術のPeakForce Tappingスキャンの基礎、特徴を説明するとともに、
従来スキャン技術（Tapping mode, ダイナミックモード、ACモード）に対する優位性を解説する。
加えて、世界初となるBruker AFMを実現した動的粘弾性測定AFM-ｎDMA、
さらにAFM-IR（NanoIR3）についての測定手法および測定例について解説を行う。