会議棟（102会議室）
2020年1月30日（木）
研究開発プロジェクト成果報告会
「超高効率データ抽出機能を有する学習型スマートセンシングシステム
（LbSS：Learning-based Smart Sensing System）
の研究開発」
※事前登録受付中※
【主催】技術研究組合NMEMS技術研究機構
【開催時間】13:30-15:00
事前登録
無料
開催趣旨：
NEDO委託事業「IoT推進のための横断技術開発プロジェクト」の一環として「学習型スマートセンシングシステムの研究開発(LbSS)」の成果や実証実験の紹介を行う報告会を実施します。
申込はこちらから
開会挨拶
13:25-13:30
一般財団法人マイクロマシンセンター
長谷川 英一氏
「超高効率データ抽出機能を有する学習型スマートセンシングシステム（LbSS:Learning-based Smart Sensing System）の研究開発」
13:30-14:30
（プロジェクトリーダー）NMEMS技術研究機構／東京都市大学
スマートセンシング研究所
所長／教授
藤田 博之氏
（サブプロジェクトリーダー）株式会社日立製作所
研究開発グループ エレクトロニクスイノベーションセンター
主管研究員
高浦 則克氏
東京大学
生産技術研究所
教授
年吉 洋氏
【講演概要】
本報告会では、NEDO IoT横断技術開発プロジェクト「学習型スマートセンシングシステムの研究開発」の成果や実証実験の紹介を行います。さらに展示ブース2W-U04では、開発した技術のデモ・パネル展示を行います。
「エッジデバイス向け名刺サイズCMOSアニーリングマシンの開発」
14:30-15:00
株式会社日立製作所
研究開発グループ
主任研究員
山岡 雅直氏
【講演概要】
組合せ最適化問題を効率よく解くアーキテクチャとして、イジングモデルを用いたアニーリングマシンが提案されています。半導体回路を実装した、IoTのエッジデバイスにも搭載可能な名刺サイズのアニーリングマシンを試作し、実際に組合せ最適化問題が解けることを確認するとともに、低電力で動作することを確認しました。本講演では、このCMOSアニーリングマシンに関して紹介します。