Society 5.0の実現に向かって、IoTシステムや自動運転システムなどの構成要素とした集積回路の高信頼化が必要である。また、高密度化された電子部品を安全かつ安心して利用するために、on-boardまたはon-chipでの接続欠陥検査技術（バウンダリスキャン技術）が求められている. 本研究室では, システムの市場稼働時にフィールドテストとして非破壊で集積回路自身によって故障の有無を判定する信頼性強化設計（Design for Trust）技術の研究・開発を行う。今回の展示内容は以下の通りになります。
1.IEEE1149.4アナログバウンダリスキャンによる微小抵抗計測技術～三次元ICのTSV抵抗評価～
2. IoTシステムにおけるJTAGのセキュリティ強化技術
3.メモリ型知的処理装置におけるAIアプリケーションの高信頼性実装技術
4.深層強化学習を用いたインサーキット検査の高速化と効率化